基于BIST的IP核测试方案设计 作者：时间：2012-08-19来源：网络收藏 本文引用地址：http://www.amcfsurvey.com/article/193355.htm 此模式选择模块实现状态之间的切换，电路简单，易于实现。 5 结束语 BIST为嵌入式内核的测试提供了一个可解决的方案，其测试效果明显，故障覆盖率较高，实现简单。通过加入测试外壳可以实现对IP核的访问、隔离、控制，有效地提高了IP核的可测性。但是采用BIST会使电路面积增加额外开销，必须在IP核的可测性和面积之间进行权衡。 上一页 1 2 下一页
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