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罗姆SiC评估板测评:射频热凝控制仪测试

作者:三石成磊时间:2022-03-19来源:EEPW论坛收藏

测试设备

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/202203/432172.htm

①直流电源

由于手上没有高电压的直流电源,只能使用一般的电源,且手上只有一个低压直流稳压源,所以这稳压电源既用于给开发板电源供电,又用于半桥母线电源。

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②电子负载

半桥电源电源的输出负载,可恒流或者恒压或者恒负载,测试电源的带载能力非常好用。

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③信号发生器

产生不同频率的可调制的方波信号,用于MOS管的驱动

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④示波器

观察驱动信号、输出信号、MOS管的波形

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⑤万用表

测量各测试点的电压

⑥温度巡检仪

测量带载后MOS管的温度

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测试拓扑

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将说明书中电路按照上述描述修改:两个直流电源换成CBB电容,在Hvdc母线上加上12V电压源。

成果展示

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由于时间匆忙,只使用DC12V母线电压,100KHz的开关频率进行测试。测试过程中没有拍摄波形图片,只是随手记录了一些测试结果,测试结果显示:

1) MOS管的温升很低,150W输出功率下,管子不需要散热片

2)硬件死区时间设置非常好,比软件可靠

3)各处波形更接近理想模型。

评估板试用感受

板子做的很精致,电路设计的也很用心,由于时间紧张没有来得及与一般MOS管做对比,但是从我测试数据以及经验来说, MOS管确实比一般MOS管性能好很多,后对高要求设计中会优先采用 MOS管。



关键词: SiC 碳化硅 MOSFET ROHM

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