如何降低测试系统开关噪声(04-100)
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但是，希望增加开关密度，在一个较小的封装内能提供更多能力。当今被测系统趋于更复杂和具有更多的点线。所以，测试工程师面对增加元件密度和同时增加通道间距离的困难。
本文引用地址：http://www.amcfsurvey.com/article/81053.htm在某种情况下，对一个噪声问题的解决方案，对待不同的噪声问题可能会降低方案的有效性。必须很好的了解噪声源、耦合方法和噪声接收器，以便对这些因素做适当的折衷考虑。
根据经验，导线直径40倍的物理分离距离将衰减噪声8dB左右。导线间更大的分离几乎没有影响。
树形开关
树形开关分离彼此的开关列，这对于降低大系统中杂散断开开关电容是相当有效的，这种杂散电容是连接系统中未用并联继电器所引起的。如图2所示，树形开关置在左边H、L、G线和左边16通道的3列之间。引入的继电器与输入继电器串联可降低这种杂散电容。
对于16通道多路开关，这种串联开关配置能有效地降低测量电路的杂散电容。这使串扰小、测量建立时间快。
T形开关
T形开关是把所有未用通道与测量总线隔离，用低电容通路到地。这种隔离是在单导线上实现的，在信号通路中插入2个另外的接点。结果在高频具有良好的通道间信号隔离。
T形开关原理说明示于图3。图中所示上面的源VN与负载电阻断开，这是因为开关A和B是新断开的，开关C是闭合的。因此，开关的T部分有效地并接到地。然而，在另一个位置具有相应触点的下部源VS连接到负载R2。
降低开关电容和耦合噪声的另一方法是使开关和开关触点间隙大或使触点面积特别小。例如，Agilent 876A同轴SPDT开关在其开关动作中利用非常长的接入。这使断开触点间隙最大。此开关是封装在精密的金属壳中，以保证大于18GHz的信号完整性。
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