基于时域反射和传输的S参数测量(07-100)

　　还有上面提到的PSPL公司是皮秒脉冲测量仪器供应商，产品包括通用和专用脉冲发生器和阶跃脉冲发生器，取样示波器模块和取样门等，用户需要扩展以上三家S参数测量设备的特性或自行构建S参数测量设备，可考虑采用该公司的产品作为优选的部件。

　　基于TDR/TDT的S参数测量的误区

　　为了正确使用基于TRD/TRT的S参数测量方法，需要避免一些错误概念，主要表现为：

　　第一，完全代替VNA。VNA能够测量有源和无源的元器件，是阻抗域测量仪器中功能最全面，、最准确的设备。目前基于TRD/TRT的S参数测量只能够解决同轴线、电缆等的无源S参数测量，而且以VNA作为测量对比的标准。

　　第二，选择高取样率的数字存储示波器。数字存储示波器的带宽取决于取样率的提高，但基于TRD/TRT的S参数测量的带宽与取样率无关，而取决于阶跃脉冲的上升时间。因而，基于TRD/TRT的测量无需选用时域测量仪器中功能最全面，取样率最高的数字存储示波器，只要使用数字取样示波器即可。

　　第三，VNA的背景噪声最低。VNA使用带通滤波器和数字滤波器，具有很低的背景噪声。同样数字取样示波器使用多次平均运算，亦能显著提高信噪比。VNA的低频从100KHz或1MHz开始，而TRD/TRT的低频一直延伸至DC，后者具有更好的低频特性。

　　第四，基于TDR/TDT的测量的动态范围较低。早期TDR/TDT测量的动态范围只有40dB，近年来取得进展，在带宽20GHz以上时动态范围扩大到70dB，加上使用数据多次平均降噪技术，动态范围进一步得到改善，为同轴线、微带、电缆的S参数测量提供足够的动态范围。

　　结语

　　基于TDR/TDT的S参数测量是一种成功的测量技术，过去通过时域—频域的变换和反变换使两域沟通起来，现在通过时域—频域变换—S参数运算使时、频、阻抗三域沟通起来，域际互通测量技术的前景更加广阔。

　　测试测量仪器中VNA是最高级和最昂贵的设备，一般实验室没有测量射频/微波的S参数的的手段，而数字取样示波器较容易拥有。已经证实，在数字取样示波器基础上构建的TDR/TDT，测量S参数设备，成本不到VNA 的一半。如果考虑到VNA的单台价格20~30万美元，则节省10~15万美元是一笔可观的经费。此外，VNA需要熟练的工程技术人员操作，测量时间要半小时以上，基于TDR/TDT的S参数测量的操作比较简单，测量时间只要几分钟，的确是省钱、省力、省时的测量方法。(李仪)