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封装测试
贡献者:
wuqinyong
浏览:3843次 创建时间:2010-04-06
半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。
所谓封装测试其实就是封装后测试,把已制造完成的半导体元件进行结构及电气功能的确认,以保证半导体元件符合系统的需求的过程称为封装后测试。
也可称为终段测试Final Test.在此之前,由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测Probe Test。
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