IGBT的质量和可靠性测试

  上传用户:EEPW 上传日期:2022-10-11 文件类型:PDF
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产品品质和可靠性是当今半导体最重要的两个因素。安森美的IGBT经过一系列的可靠性测试,包括高温反向偏压、高温栅极偏置、高温存放寿命、高湿高温反向偏置、无偏压高加速应力、间歇运行寿命、温度循环、低温存放寿命、稳态运行寿命等等,这可靠性和质量保证工程旨在评估新产品,以确保产品在实际应用中的性能令人满意。

关键词: onsemi   安森美   IGBT   可靠性测试  

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