首页　 资讯　 商机 　 下载　 拆解 　 高校　 招聘 　 杂志　 会展　 EETV　 百科 　 问答　 电路图　 工程师手册 　 Datasheet　 100例 　 活动中心　 E周刊阅读 　 样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> polyspace test

polyspace test 文章 进入polyspace test技术社区

Test Advantage 收购Microstats

  •    Boston Semi Equipment Group（BSE 集团）旗下公司 Test Advantage 宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群，以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。    
  • 关键字： Test Advantage   Microstats  自动测试设备  

基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

  • 挑战：通过PXI 控制板卡和LabVIEW软件，构建一套比较完整齐全的PCB板的功能测试(FCT)系统，利用该系统可实现对音频视频以及各种静态参数（电压、电流、频率）的综合性全自动测试，对于新开发生产的PCB板，工厂无需频
  • 关键字： Functional  LabVIEW  Circuit  Test    

科利登获《测试与测量世界》Best in Test Award

  • 科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”（译：最佳测试奖）奖项。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统，它采用先进科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 关键字： Award  Best  in  Test  测试与测量世界  科利登  测试测量  
共18条 2/2 « 1 2

polyspace test介绍

您好，目前还没有人创建词条polyspace test!
欢迎您创建该词条，阐述对polyspace test的理解，并与今后在此搜索polyspace test的朋友们分享。    创建词条

polyspace test相关帖子

更多

polyspace test资料下载

更多

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052    京公网安备11010802012473