Multitest举办“测试成本高级研讨会”

　　Multitest在2011年3月15日至17日在上海新国际博览中心举办的SEMICON China 2011展示一系列先进的产品和解决方案，并举办“测试成本高级研讨会”。

　　Multitest推出的MT2168测试分选机是一个完美的“全能型”平台，它同时具备灵活性及经济性，不仅适用于集成设备制造商，也适用于分包商及全系列应用。MT2168优化了最终测试中的测试单元利用率，提供了显著的测试成本优势，优化了测试单元效率，具备前所未有的配置能力和最高的制造可靠性。

　　Multitest的测试插座产品系列提供的连接解决方案适用于所有类型的分拣器、含铅封装和无铅封装、阵列封装和在线封装，还有间隙最小达0.25 mm的器件，以及单一测试、条带测试和WLCSP。该测试插座系列涵盖了–60° C到200° C整个温度范围内最广泛的应用，包括高达40 GHz的带宽，高达1,000 A 的高功率/高电流和KELVIN测试插座。

　　同时, Multitest还将现场演示Plug & Yield™解决方案。Plug & Yield™能够帮助用户以更快速度和最低成本将产品投放市场。这一解决方案实现了更好的资源利用和更快“收益时间”。同时，Plug & Yield™解决方案带来更高的生产测试合格率和长期有效的测试技术合作关系。

　　更值得期待的是, Multitest将于3月16日在W2展厅的M2会议室举办 “测试成本高级研讨会”。 该研讨会将围绕以下主题展开：影响测试成本的主要因素;测试座如何大幅影响测试成本;优化测试设备使用以达到最佳测试成本;协调测试配置以达到最佳性能。研讨会对所有感兴趣的业界同仁开放，欢迎大家参与交流。