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基于80C196的采样与A/D处理

作者:时间:2012-03-16来源:网络收藏

介质损耗仪是一种测试高压绝缘体性能状况的仪器,原理为从标准通道取得的电信号与被试通道取得的电信号相比较、分析与来得出被试体的绝缘状况。被试体可等效为电阻与电容的并联。图1为原理结构图。在分析中,需要得出精确的两个通道信号的大小, 和求出两通道信号的相角之差。由于环境恶劣与对精度的高要求,设计应注意:一:采用高的采样频率,拓宽原始信号的频域,保证原始信号的最小失真的采样;二:为克服采样的坏环境和得到高精度的 转换量化值,应选用高精度与高线性度的转换芯片;三:为保证相角差的测量,两个通道应同时开始采样;三DFT:为了对采样来的离散点信号进行快速傅立叶变换,采样的时间段为一个周期。在实时采样中采样频率实现的问题上,有多种方案,可以由嵌入式的微处理控制器设定频率触发转换器的采样,像如利用DSP处理芯片其采样周期只有25ns甚至更小;也可设计专门的硬件组成触发电路。在本仪器中是利用一种普通的微控器()结合锁相环组成的外围硬件触发采样的。下面讲述这种采样的原理与实现。

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/171860.htm

31.gif

1 原理介绍

由于单位周期内采样点越多,测得的值就越精确。本设计中一个原始信号周期拟采样512个点,工频的频率为50Hz,所以采样频率大概就是25600Hz,其可包含更宽的原始信号频域,采样更真实。采样就是要把真实的信号存入处理器存贮内,以供处理调用。此全过程有采样触发与A/D转换两个部分。

1.1 采样触发

采样触发图如下:

32.gif

图2 触发电路


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关键词: 处理 A/D 采样 80C196 基于

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