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彩色滤光片实现OLED彩色化的瑕疵分析*

作者:庄筱磊 李荣玉 上海交通大学电子信息与电气工程学院 施展 刘畅 张浩 余峰 张建华 上海大学广电电子平板显示联合工程技术中心时间:2009-08-07来源:电子产品世界收藏

  ·两者的发光层的结构有所区别:一个是RGB并列蒸镀,一个B+O叠加蒸镀。然而使用的这些有机材料都是经过测试合格的同一家供应商提供,且通过了各自的寿命稳定性测试,并没有发现类似的黑点瑕疵情况。可以基本排出该原因。

本文引用地址:http://www.amcfsurvey.com/article/96985.htm

  ·两者使用的基板有所区别:一个是镀有金属电极和薄膜基板,一个是镀上薄膜的基板。

  在随后对这两种不同基板进行表面粗糙度的AFM测试中,发现了引起黑点瑕疵的主要原因(图4,图5)。

  在AFM- SPA-400的测试下,可以观察到,在同样的4mm×4mm的区域内,基板表面的粗糙度是基板表面粗糙度的5倍;而在2mm×2mm的区域内,可以更明显的观察到基板表面凹凸不平的起伏,其尖峰甚至可以达到40~50nm。所有发光的有机薄膜层都蒸镀在ITO上,由于其较差的传导率,一般有机薄膜层的厚度大约为100nm。在基板表面遍布着有机薄膜厚度一半的尖峰(Spike),其表面的形态会直接影响到有机层的表面结构。那么会导致器件的阳极ITO和阴极Al之间很容易出现不稳定的界面,这样的有机材料和电极之间界面或者有机层和有机层之间界面会降低器件结构的稳定,也是形成坏点和性能低下的一个因素。

  对这两块基板的光电参数的测试也同样验证了所存在的尖峰对于器件的性能有着很大的影响。器件完成后的I-V测试,用来测试基于基板是不同材质的CF和ITO基板上的器件,而且其结构也不同,他们的I-L没有办法作比较。但CF基板有着比ITO的基板更高的电流级别。我们认为这是由于CF基板中类似尖峰的表面有比一般平整的ITO上制作的样品更多注入空穴的效果。



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